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NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA

構造体
サイズx64: 28 バイト / x86: 28 バイトパッキング1

サイズ=各フィールドのバイト数(x64/x86 で異なる場合は x64/x86 と併記)。x64/x86 列=フィールドのバイトオフセット(HSPで dupptr / lpoke / wpoke 等に使用)。

フィールド

フィールドサイズx64x86説明
Status_Status_e__Struct1+0+0自己テスト結果コードと種別を示すビットフィールド。
SegmentNumberBYTE1+1+1失敗したテストセグメントの番号。
ValidDiagnostics_ValidDiagnostics_e__Struct1+2+2後続フィールドの有効性を示す診断ビット群。
ReservedBYTE1+3+3予約領域。将来拡張用で0とする。
POHULONGLONG8+4+4テスト完了時の通電時間(Power-On Hours)。
NSIDDWORD4+12+12テストで失敗した名前空間ID。
FailingLBAULONGLONG8+16+16失敗が発生した論理ブロックアドレス。
StatusCodeType_StatusCodeType_e__Struct1+24+24失敗時のステータスコードタイプ。
StatusCodeBYTE1+25+25失敗時のステータスコード。
VendorSpecificWORD2+26+26ベンダー固有の追加情報。

構造体: _Status_e__Struct x64 1B / x86 1B

フィールドサイズx64x86
_bitfieldBYTE1+0+0

構造体: _ValidDiagnostics_e__Struct x64 1B / x86 1B

フィールドサイズx64x86
_bitfieldBYTE1+0+0

構造体: _StatusCodeType_e__Struct x64 1B / x86 1B

フィールドサイズx64x86
_bitfieldBYTE1+0+0